Elektronenmikroskopie

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Elektronenmikroskopie
Mediengruppe: Buch
Autor/Künstler: Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Jahr: 1995

Bibliothek	Signatur
Zentralbibliothek	Nat 413 Fleg

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Grundlagen - Methoden - Anwendungen

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Autor/Künstler: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L. Mehr...

Von/Mit: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman, jr. ; Karen L. Klomparens. Aus dem Amerikan. von Marita Blankenhagel

Jahr: 1995

Verlag: Heidelberg ; Berlin ; Oxford, Spektrum, Akad. Verl.

Mediengruppe: Buch

verfügbar

Exemplare

Bibliothek	Standort	Signatur	Status	Rückgabedatum
Zweigstelle: Zentralbibliothek	Standort 2: Sachbuch	Signatur: Nat 413 Fleg	Status: Verfügbar	Frist:

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Autor/Künstler: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.

Von/Mit: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman, jr. ; Karen L. Klomparens. Aus dem Amerikan. von Marita Blankenhagel

Jahr: 1995

Verlag: Heidelberg ; Berlin ; Oxford, Spektrum, Akad. Verl.

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ISBN: 3-86025-341-7

Beschreibung: VIII, 279 S., Ill., graph. Darst.

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Originaltitel: Scanning and transmission electron microscopy dt.

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